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                    瞿晓铧:PERC组件的LeTID问题不可忽视!

                    2019-02-19 14:35
                    来源: 阿特斯

                    今年1月初,阿特斯集团公司发布新?#21028;?#24067;,我们已经成功向全球市场累计交付2.6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC组件。这?#21069;?#29305;斯在开发和提供高效率、高质量、高附加值太阳能组件产品方面不断努力,并取得突破性成果的一个重要里程碑。

                    LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation),业界称为“光照和高温诱导衰减?#20445;?#25110;者叫“光热衰减?#34180;?#21517;称?#34892;?#25303;口,但?#20405;?#24471;大家花些时间去了解它,因为它会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。

                    光伏行业对LID(Light Induced Degradation),也就是“光致衰减”现象已经很了解。通常情况下,只要光伏组件暴露在阳光下就会发生LID(光致衰减),在短时间(几天或几周)内就能达到饱和的衰减。行业对于LID(光致衰减)的研究也已经非常充分,产生机制?#19981;?#24471;一致认可,主要是硅材料内的硼氧缺陷。因为晶体生长方法的差异,单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶,从而LID衰减也远高于多晶。?#38477;?#19977;年前PERC技术的推广还受限于LID(光致衰减),随着抗LID衰减技术的突破使LID得到比较?#34892;?#30340;控制,加之设备的广泛应用,PERC技术得?#28304;?#35268;模导入。

                    ?#27426;鳯eTID衰减机制不同,它通常发生在光照和高温(> 50°C)两个条件同时满足的情况下,并且LeTID对于PERC组件的发电量影响很大。PERC组件在实验室的测试条件和电站?#23548;?#24037;作环境中都存在LeTID(光热衰减)现象。在组件工作温度超过50°C?#20445;?#19981;论是单晶还是多晶PERC组件都会发生LeTID(光热衰减),衰减?#39318;?#39640;可达10%。

                    阿特斯技术研发团队通过多年对材料、工艺和生产设备的长期深入研究,开发出了具有自主知识产权的LeTID控制技术。这使得阿特斯成为少数几家掌握了在大规模生产过程中降低和控制LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一。

                    新南威尔士大学(Universityof New South Wales,简称 UNSW) 2018年11月发布的?#29615;?#30740;究报告显示,阿特斯基于黑硅和多晶PERC技术的P4组件的开路电压(Voc)在166小时的辐照、75°C测试条件下,只有0.3%的衰减。这个测试结果佐证了阿特斯P4组件优异的抗LeTID衰减性能。

                    所以下次当您再购买PERC太阳能组件?#20445;?#26080;论单晶还是多晶,请务必先了解制造商对LeTID的重视和了解程度。同时可以问问他们如何控制和解决LeTID问题,并请他们向您展示一些可信的第三方测试报告。几年后你将会为此感到庆幸。

                    声明: 本文系OFweek根据授权转载?#20113;?#23427;媒体或授权刊载,目的在于信息传递,并不代表本站赞同其观点和?#20113;?#30495;实性负责,如有新闻稿件和?#35745;?#20316;品的内容、版权以及其它问题的,请联系我们。

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